第三届中国集成电路设计创新大会与无锡IC应用博览会（ICDIA 2023）盛况

开幕式亮点与主题聚焦

在7月13日至14日举行的第三届中国集成电路设计创新大会暨无锡IC应用博览会上，主题为“应用引领集成电路产业高质量发展”，围绕EDA/IP与IC设计创新、ChatGPT与高算力芯片、汽车电子、射频与无线通信技术、云端半导体、智能家电等前沿议题，进行了深入研讨与交流。此次博览会吸引近200家展商参与，为超过2000名专业观众呈现了一场集成电路设计与应用的顶级盛会。

领域龙头——君鉴科技的展示与贡献

作为国内测试测量科技服务行业的领军企业，君鉴科技在博览会上展示了多样化的IC测试测量解决方案与产品，为IC领域硬科技企业的研发测试提供了全方位的支持。高速数字及IC测试方案的展出，尤其是基于是德科技UXR0504A示波器的AI大模型、IC芯片测试方案，以及罗德与施瓦茨FSW 85频谱分析仪与SMW200A相结合的IC测试方案，均体现了君鉴科技在芯片测试领域的专业实力与创新能力。

芯片测试的重要性与君鉴科技的解决方案

芯片测试是芯片生产制造过程中的关键环节，它对于确保芯片质量、提升生产效率和经济效益至关重要。君鉴科技展出的高速数字测试方案与基于罗德与施瓦茨的IC测试方案，分别针对AI大模型、IC芯片的数据处理需求和射频芯片的验证需求，展现了其在不同应用场景下的测试能力与解决方案。

君鉴科技的全方位服务与技术创新

君鉴科技凭借多年服务于半导体与IC芯片产业的经验，积累了丰富的测试测量技术服务。其提供的服务覆盖了功率半导体器件特性测试、GPU与FPGA算力芯片的信号完整性测试、I-V与C-V参数测试、射频芯片S参数测试等多个领域，满足了芯片测试的广泛需求。此外，君鉴科技还展示了其自主研发的一站式仪器信息与服务平台“每日E问”，为电子测试工程师、教师学生等群体提供了全面的仪器信息查询、选型推荐、行业资讯、应用方案等服务，旨在打造一个集信息与服务于一体的平台。

成长历程与服务网络的拓展

成立于2002年的深圳君鉴科技股份有限公司，专注于成为测试仪器综合服务领域的领导者。自成立以来，君鉴科技深耕于芯片/半导体、通信、消费电子、汽车电子等多个产业，开创了测试仪器全生命周期服务模式，提供从科技租赁到测试解决方案定制的全方位服务。目前，君鉴科技已在全国17个重点城市建立了完善的服务网络，成为行业内唯一实现全国重点区域销售与服务全覆盖的测试仪器综合服务商。

助力中国集成电路产业发展的使命与愿景

面对国内芯片产业的快速发展与高质量发展需求，作为国家高新技术企业和深圳市专精特新中小企业，君鉴科技将持续提升IC芯片行业服务能力与技术水平，不断优化和完善各类芯片测试解决方案，致力于提供高质量的研发测试服务，助力国内科研企业加速研发进程，为推动我国芯片产业的自主生产、国产化替代与自主供需贡献力量。